東北大学の本間尚文教授と上野嶺助教らは、ASIC(特定用途向けIC)などの半導体チップに挿入された不正機能を漏れなく検出する技術を開発した。半導体回路を数学的に表現し、設計仕様と実際のICチップが同一か判定する。計算結果を変える機能が忍び込んでいれば数学表現に変化があるため、一致すれば仕…
東北大学の本間尚文教授と上野嶺助教らは、ASIC(特定用途向けIC)などの半導体チップに挿入された不正機能を漏れなく検出する技術を開発した。半導体回路を数学的に表現し、設計仕様と実際のICチップが同一か判定する。計算結果を変える機能が忍び込んでいれば数学表現に変化があるため、一致すれば仕…