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全1429文字 PR 今回のコラムはパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体技術者検定エレクトロニクス3級」の予想問題を紹介する。 本稿ではメモリデバイスの試験対象となる不良に関して問う。近年では、メモリデバイスはコンピュータをはじめとする多種多様な電子機器で重要な役割…